GTEM小室構成的輻射敏感度（抗擾度）測試系統為小型電子產品的輻射電磁場干擾敏感性提供有力的測試依據。測試系統構成：主要由標準信號源、功率放大器、場強監視器、計算機及操控軟件和GTEM室體組成。

　　GTEM小室主要配置：

　　GTEM小室：GHz電磁波室。它接收放大器的輸出信號后形成所需的電場。場強的大小可由場強探頭測得。

　　信號源：是帶有GPIB接口的信號源。它同樣可進行脫機或聯機操作。聯機時，可受計算機控制，進行相應操作。

　　功率放大器：對信號源的小信號進行功率放大，并送至GTEM小室內形成所需的場強。

　　場強探頭：測量GTEM小室內的電場強度，并將場強信號的電平值通過線纜送至場強監視儀進行處理。

　　場強監視儀：對來自場強探頭的信號進行處理，在屏幕上顯示GTEM室內探頭位置上的場強值。場強監視儀可獨立于計算機而進行操作(通過面板的按鈕，詳見使用說明);也可通過GPIB(IEEE-488)接口與計算機聯機。

　　主控計算機：配備標準的GPIP接口卡，通過IEEE-488電纜與場強儀連接。采用主控計算機并配置必要的系統軟件，可完成對場強監視儀與信號源的同步控制，實現整個測試系統的自動化操作。

　　GTEM小室可以滿足小尺寸產品的測試需求。可以覆蓋輻射抗擾度的標準要求。廣泛用于電力行業。GTEM小室近些年來在電磁兼容領域得到了廣泛的應用，其工作頻率范圍寬，內部可用場區大，對EUT大小的限制與 頻率無關，既可以用于電磁輻射敏感度的測量，也可進行電磁輻射干擾的測試，質高價廉，易于使用，為電磁兼容的測試與評估提供了強有力的手段。